銷售咨詢熱線:
18911365393
產品中心
首頁 > 產品中心 > > 薄膜性能測試設備 > kSA SpectR 光譜反射率測試設備

kSA SpectR 光譜反射率測試設備

描述:這是一種用于測量光譜絕對反射率,L*a*b*成色值和生長速率的非接觸式測量設備。kSA SpectR 光譜反射率測試設備具有多種在線監控和過程控制的應用功能,包括垂直腔表面發射激光器(VCSEL),分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復雜的設備結構。該設備主要應用于監控測量sputtering,MBE和MOCVD等薄膜生產研究。

更新時間:2022-12-28
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

kSA SpectR 光譜反射率測試設備是一種用于測量光譜絕對反射率,L*a*b*成色值和生長速率的非接觸式測量設備。該工具具有多種在線監控和過程控制的應用功能,包括垂直腔表面發射激光器(VCSEL),分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復雜的設備結構。該設備主要應用于監控測量sputtering,MBE和MOCVD等薄膜生產研究。


kSA SpectR 光譜反射率測試設備的光學鏡組被配置為鏡面反射的幾何形狀。k-Space采用的該測量技術源自于美國Sandia國家實驗室,并得到了實驗室的使用授權。在這種測量原理中,薄膜每生長出一個新layer,程序就會自動擬合,將已有的所有基底和薄膜layer視為一個新的虛擬基底。kSA SpectR可以同時以多個波長進行測量,每個波長都具有潛在的*優勢。此工具可在選定的波長范圍內輕松測量自定義光譜特征,如反射率的最小值、最大值、拐點或基線散射水平。


測量實例

850 nm DBR的光譜反射率


在GaAs襯底上生長250nm的AlAs和500nm的GaAs時,532和940nm下的反射率及其擬合曲線


AlAs生長期間的生長速率,光學常數和反射率實時擬合曲線


AlAs和GaAs生長的未經校正的高溫計測量結果和經過校正的ECP溫度


GaAs薄膜生長過程中單個反射率振蕩周期圖



留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
欧美综合亚洲第一页亚洲,高潮呻吟求饶H嗯啊视频,日本在线看片免费人成视频1000,中国人妻被两个老外三P <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>